檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗。

5、結(jié)束實驗

6、郵寄檢測報告

檢測標準

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.1

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.3

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.5

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.8

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.7

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.7

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.7

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.9

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2018 5.14

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.15

半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-20185.16

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027B-20211101-1103

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027B-20211101

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548C-20212015.2

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548C-20212003.2

微電子器件試驗方法和程序 GJB 548C-20212011.2

微電子器件試驗方法和程序GJB 548C-2021 1015.1

檢測項目

輸入失調(diào)電壓VIo，輸入失調(diào)電流lIO，輸入偏置電流lIB，開環(huán)電壓增益AVD，正電源電流!+，負電源電流l，靜態(tài)功耗PD，共模抑制比KCMR，輸出低電平電壓VOL，高電平輸出電流IOH，低電平輸出電流IOL，鍵合強度，剪切強度，耐溶劑性，可焊性，鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗)，老煉試驗，穩(wěn)態(tài)壽命，引線車固性，溫度循環(huán)，耐濕，密封，機械沖擊，掃頻振動，恒定加速度，鹽霧(鹽汽)，靜電放電敏感度的分級，粒子碰撞噪聲檢測試驗，高溫貯存

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急