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半導體電子元器件可靠性測試:溫度試驗方法介紹

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健明迪檢測提供的半導體電子元器件可靠性測試:溫度試驗方法介紹,溫度試驗持續的時間的確定 在化學中一條常用的規律是在高溫下反應的速度要快一些。這一規律被應用到技術中,以便進行加速試驗,這也被稱為阿侖尼斯方程,具有CMA,CNAS認證資質。
溫度試驗持續的時間的確定

在化學中一條常用的規律是在高溫下反應的速度要快一些。 這一規律被應用到技術中,以便進行加速試驗,這也被稱為阿侖尼斯方程。

阿侖尼斯關系從數學上的表示為:

AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實際– 1/T試驗室)
式中數值:
AF= 加速度系數
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(8.65×10-5ev/K)
T實際=在實際負荷下的溫度(絕對溫度)
T實驗室=在實驗室負荷下的溫度(絕對溫度)
為確定加速度系數激活能必須是已知的,對于一般的電子元件經常采用的值是:Ea=0.44Ev

在產品不工作時進行的低溫或高溫實驗,試驗的持續時間為試驗樣品達到溫度穩定后,根據試驗樣品的特點和試驗目的確定。也可從下列等級中選取:2,16,72,96h。t = t穩定+ to (to由計算產生或=2,16,72,96h) 。

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溫度試驗區域中試件的擺放

多個樣品在同一試驗箱進行高溫實驗時,應保證所有樣品都處在同一環境溫度下,并具有相同的安裝條件。
對于散熱樣品而言,各個試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件,即試件間間隔應足夠大,這樣對于單個試件來說,其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小,到可忽略的程度。
對于非散熱試件,溫度保持不變的高溫或低溫試驗,試件間的間距可以不做要求,因為溫度恒定后試件的溫度與溫度試驗箱內的溫度保持一致,不發生熱量交換,試件間的間距對試驗不會產生影響。
非散熱試件的溫度變化試驗試件間則應該保持間隔,使試驗件之間有足夠的空氣流動,加速試件與溫度試驗箱之間的熱交換,使試件盡快達到試驗指定的溫度。

溫度試驗區域空氣速度的影響

試驗區域中空氣和試驗樣品間的熱交換效率取決于空氣流動的速度。
對于非散熱試件,較高的空氣流動速度可以使試件各部分的溫度較快速的達到周圍空氣的溫度。一般在試驗區域未擺放試件的情況下,空氣流動速度應不低于2m/s。
對于散熱試件,試件樣品最熱點的溫度高于周圍環境溫度時,應在無強迫空氣流動(自由空氣條件)的環境下進行試驗,否則試件的溫度將被降低,從而減小試驗的嚴酷程度。

產品溫度試驗要點

對于目前的產品來說,在未工作狀態產品本身不產生熱量,因此在試件未工作狀態進行的溫度試驗都可作為非散熱試件來處理。
在工作狀態進行溫度試驗的產品目前主要有燃油泵,點火線圈,怠速調節器等。
這些產品如在工作條件下進行溫度試驗都應作為散熱試件。特別是點火線圈,工作時的發熱量較大,應對其上的溫度進行監測。

溫度是物質內部分子(原子,電子)運動能量(內能)的一種外在表征形式,溫度越高表示物質內部分子無規則的運動越劇烈,兩物體間的溫度相差也越大,在兩物體之間的熱交換量也越多。溫度試驗是質量與可靠性工程師經常開展的環境試驗,本文帶大家聊聊半導體電子元器件可靠性測試中溫度試驗的相關知識吧。 半導體電子元器件可靠性測試
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